病情分析:
EL測試中單晶電池片隱裂判定標(biāo)準(zhǔn)的目的在滿足組件電性能不受影響的條件下,一些隱裂組件實(shí)行降級(jí)通過,適用范圍適用于EL測試中單晶,電池片的隱裂判定。
指導(dǎo)意見:
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